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納米尺度分析：ZEM系列臺式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術相結合，可提供多維度的樣品信息。

高分辨成像：ZEM系列臺式電鏡介紹 對于尋求高分辨成像能力的用戶，澤攸電鏡的ZEM系列臺式掃描電鏡將高性能融入小巧的機身中。該產品減少了用戶對大型設備空間的依賴。

澤攸透射電鏡：探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡（SEM），為材料科學、生物醫學和納米技術研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設計緊湊，適合實驗室環境。

澤攸原位電鏡MEMS系統技術解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統是一套專為透射電子顯微鏡設計的微機電實驗平臺，旨在實現對材料在多種外場激勵下的實時動態觀測。該系統通過精密的微納加工技術，為材料科學研究提供了原位實驗的解決方案。

澤攸原位MEMS：動態電鏡觀測新方案在材料科學、納米技術和生命科學等領域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結構的重要工具。而原位實驗技術的進步，使得研究人員能夠在原子尺度下實時觀察材料在外界刺激（如加熱、拉伸、電場等）下的動態變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS（微機電系統）技術，為這一研究方向提供了新的實驗手段。

澤攸ZP3-4微納探針臺是一款適用于微納器件電學性能測試的精密儀器，主要服務于半導體器件、納米材料和微電子機械系統（MEMS）等領域的研究與測試需求。該系統采用模塊化設計理念，可滿足不同規格樣品的測試要求。澤攸ZP3-4微納探針臺精密電學測量平臺