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產(chǎn)品中心三維光學(xué)輪廓儀BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀BEUKER光學(xué)輪廓儀：高效表面分析方案?
產(chǎn)品簡介
BEUKER光學(xué)輪廓儀：高效表面分析方案?BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀提供穩(wěn)定的表面形貌測量方案，適用于科研與工業(yè)檢測。其模塊化設(shè)計支持多種測量需求，操作簡便，數(shù)據(jù)可靠
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布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀產(chǎn)品性能
•測量速度：單次掃描≤5秒
•垂直量程：0.5nm至8mm
•兼容多種樣品：透明、反射、粗糙表面
•軟件功能：自動校準、多區(qū)域分析、數(shù)據(jù)導(dǎo)出
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀用材與工藝
光學(xué)鏡頭采用多層鍍膜技術(shù)，減少雜散光干擾。機械結(jié)構(gòu)采用減震設(shè)計，適配實驗室及產(chǎn)線環(huán)境。
參數(shù)表
型號 | 橫向分辨率 | 重復(fù)精度 | 適用行業(yè) |
|---|---|---|---|
BWI-300 | 1μm | ±0.05% | 電子制造 |
BWI-600 | 0.8μm | ±0.03% | 光學(xué)鍍膜 |
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀用途
•顯示屏涂層厚度測量
•精密模具表面檢測
•生物材料微觀形貌分析
•科研機構(gòu)材料研究
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀使用說明
1.校準參考平面，確保基準準確。
2.選擇合適物鏡，調(diào)整光源強度。
3.啟動掃描，軟件實時顯示干涉圖像。
4.導(dǎo)出數(shù)據(jù)報告，支持CSV、PDF格式。
兩款儀器均提供定制化服務(wù)，適配不同行業(yè)需求。
BEUKER光學(xué)輪廓儀：高效表面分析方案
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