在微觀測量的廣闊天地里，布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學輪廓儀憑借其魅力，吸引著眾多科研人員與工業生產者的目光，為他們的工作帶來高效與精準。布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選
產品細節：緊湊外觀，便捷操作
ContourX - 500 采用緊湊的桌面式設計，不占過多空間，特別適合實驗室空間有限的環境。操作界面簡潔直觀，各類功能按鈕一目了然，新手也能快速熟悉操作流程。樣品臺設計巧妙，具備高精度的移動和定位功能，可靈活調整樣品位置，確保測量區域準確無誤。設備配備的 5MP 攝像頭及 1200x1000 測量陣列，有效降低噪聲，提升橫向分辨率，讓微小細節清晰呈現。
產品性能：多元技術，出色表現
這款輪廓儀融合了*的白光干涉技術與精密光學系統。白光干涉技術通過分析不同波長光干涉產生的條紋，精準識別樣品表面微觀起伏。測量過程中，設備運行穩定，受外界環境干擾影響小，保障測量結果的穩定性與一致性。它擁有出色的 Z 軸分辨率和準確度，可在多種復雜表面上獲取高質量測量數據。測量范圍靈活，能根據樣品需求調整參數，無論是對大面積區域進行快速掃描，還是針對微小局部進行精細測量，都能輕松勝任。
用材講究：優質選材，耐用可靠
布魯克在 ContourX - 500 的選材上嚴格把關。核心光學部件采用高品質光學玻璃，具備出色的透光性和低色散特性，減少光線傳播中的能量損失與圖像畸變，保證測量成像清晰準確。內部機械結構選用高強度、耐磨的金屬材料，如傳動部件采用優質合金鋼，確保長期高頻使用下，依然維持精確的運動精度和良好的機械性能，延長設備使用壽命，降低維護成本。設備外殼堅固且抗腐蝕，有效保護內部精密部件，適應多樣的使用環境。
參數詳情
廣泛用途
在半導體工藝的質量保證與質量控制（QA/QC）計量中，ContourX - 500 可精確測量晶圓表面的平整度、刻蝕圖案的深度與寬度等參數，助力提升芯片制造質量。在眼科領域，能對隱形眼鏡等光學器件的表面形貌進行檢測，確保產品符合光學性能標準。對于微機電系統（MEMS）器件的研發表征，該輪廓儀可清晰呈現微小結構的表面特征，為器件性能優化提供關鍵數據支持。憑借精巧的設計、可靠的性能與豐富的功能，布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學輪廓儀成為桌面級微觀測量的理想選擇，為各行業的精密測量工作注入強大動力。布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選
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