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布魯克白光干涉光學輪廓儀納米級測量新選擇

產品簡介

布魯克白光干涉光學輪廓儀納米級測量新選擇
布魯克 Dimension Edge 白光干涉光學輪廓儀,專注納米級微觀測量,為高精度檢測需求提供支持。

產品型號:
更新時間:2025-08-20
廠商性質:代理商
訪問量:95
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布魯克 Dimension Edge 白光干涉光學輪廓儀,專注納米級微觀測量,為高精度檢測需求提供支持。布魯克白光干涉光學輪廓儀納米級測量新選擇
產品細節
Dimension Edge 設計精密,機身帶有防震減震裝置。操作界面專業,支持多種高級測量模式設置,滿足復雜樣品檢測需求。樣品臺采用壓電驅動,移動精度高,可實現納米級定位。
產品性能
測量分辨率高,能捕捉納米級表面起伏與缺陷。采用先進干涉算法,數據處理精準,對超光滑表面測量效果突出。支持長時間連續測量,性能穩定性較好。
用材講究
核心干涉組件采用特殊光學材料,保證干涉信號穩定。驅動系統選用高精度壓電陶瓷,實現微納米級位移控制。設備內部線路采用屏蔽設計,減少電磁干擾。
參數詳情
參數項
具體數值
縱向分辨率
可達 0.1nm
樣品臺移動精度
±1nm
測量范圍
縱向最大 100μm
數據存儲
支持大容量數據保存
工作濕度
30% - 60% RH
廣泛用途
適用于光學薄膜厚度測量、納米涂層質量檢測、高精度傳感器表面形貌分析等高精度場景,為前沿技術研發提供數據支持。
使用說明
需在恒溫恒濕實驗室使用,遠離磁場與振動源。測量前對設備進行精細校準,使用專用樣品固定工具。操作人員需經過專業培訓,熟悉高級功能設置。測量完成后,妥善保存數據,定期進行設備標定。

布魯克這四款白光干涉光學輪廓儀,針對不同場景設計,憑借各自特點滿足科研、桌面檢測、工業生產、高精度測量等多樣需求,為微觀測量領域提供可靠支持。

布魯克白光干涉光學輪廓儀納米級測量新選擇

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