在科研儀器國產化浪潮中，澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡憑借其高性價比與易用性，成功打破傳統大型電鏡的市場壟斷，成為高校、企業與檢測機構的優選設備。臺式掃描電鏡

產品性能梯度設計

ZEM系列包含ZEM15、ZEM15C、ZEM18與ZEM20四款型號，覆蓋從基礎教學到科研的需求：

• ZEM15：入門級設備，分辨率15納米，適合材料表面形貌的初步觀察。

• ZEM15C：升級版，分辨率提升至10納米，增加BSE探測器與觸摸屏操作。

• ZEM18：中端機型，分辨率8納米，支持低真空模式觀測不導電樣品。

• ZEM20：旗艦產品，分辨率4納米，集成原位實驗功能與EDS接口。

核心用材與可靠性保障

• 真空系統：采用分子泵+離子泵復合抽氣結構，極限真空度達10?? Pa，減少樣品污染風險。

• 電子槍：鎢燈絲與六硼化鑭燈絲可選，滿足不同分辨率與壽命需求。

• 防震設計：設備底部配備主動隔震模塊，可抵御0.5Hz-100Hz頻率的振動干擾。

典型參數對比表

多行業應用案例

• 教育領域：某高校材料學院引入ZEM15C后，學生可自主完成金屬晶粒度分析與斷口形貌觀察，實驗課時效率提升40%。

• 半導體行業：某芯片廠商利用ZEM20的EDS擴展功能，快速定位封裝材料中的氯元素污染源，將產品良率提高15%。

• 地質勘探：某研究所通過ZEM18的低真空模式，直接觀測未噴金的巖石薄片，揭示礦物顆粒的嵌布關系。

用戶友好型設計

• 操作界面：全中文觸摸屏軟件，支持手勢縮放與圖像標注。

• 維護便利性：模塊化設計使得燈絲更換、真空泵檢修等操作可在30分鐘內完成。

• 售后服務：提供72小時響應的遠程支持與每年一次的免費上門保養。

ZEM系列電鏡通過梯度化產品布局與全生命周期服務，成為推動微觀分析技術普及的重要力量。