BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備

產品簡介

BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備
在小型五金廠、電子配件廠等小型制造企業，布魯克 ContourX-100 以低成本、易維護的優勢，成為產品質量檢測的入門級設備，幫助企業把控基礎生產質量。

產品型號：ContourX-100

更新時間：2025-10-21

廠商性質：代理商

訪問量：150

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備

在小型五金廠、電子配件廠等小型制造企業，布魯克 ContourX-100 以低成本、易維護的優勢，成為產品質量檢測的入門級設備，幫助企業把控基礎生產質量。

產品細節

ContourX-100 機身結構簡單，無復雜機械傳動部件，日常維護僅需清潔與簡單檢查，無需專業人員。操作界面為一鍵式設計，“測量"“保存"“清零" 功能獨立按鍵，質檢人員半小時培訓即可上崗。樣品臺無需專用夾具，直接放置小型五金件、電子配件，圓形或不規則樣品可通過彈性卡扣固定。設備體積小巧，可放在車間質檢臺角落，不占生產空間；背部有簡易散熱孔，常溫下即可正常工作。支持 SD 卡數據存儲，無需連接電腦，直接保存數據至 SD 卡，方便攜帶至辦公室分析。

產品性能

ContourX-100 的測量精度能滿足基礎質量標準，如檢測五金件的表面粗糙度（分辨 Ra 值 0.05μm 以上差異）、電子配件的引腳高度差（誤差在企業可接受范圍）。設備對環境要求低，15-32℃、20%-75% 濕度范圍內測量穩定，無需投入成本搭建恒溫環境。測量速度適合小型企業生產節奏，單次測量約 3-5 分鐘，可配合每小時 5-10 件的抽檢頻率。具備數據對比功能，可將當前結果與標準數據對比，直觀顯示是否符合要求。

用材講究

外殼采用防刮擦工程塑料，長期使用保持外觀整潔。樣品臺臺面為耐腐蝕聚乙烯材質，能抵抗機油、切削液污染，清潔方便。光學鏡頭帶防塵蓋，閑置時防止金屬碎屑、灰塵進入。內部電子元件選用工業級基礎型號，電壓波動 ±10% 下仍正常工作，減少供電不穩定導致的故障。

參數詳情

參數項	具體數值
橫向分辨率	最高可達 1μm
縱向分辨率	低至 5nm
縱向測量范圍	5nm-3mm
樣品臺尺寸	80mm×80mm
單次測量時間	約 3-5 分鐘（標準參數）
數據存儲	支持 SD 卡（最大 32GB）、本地存 200 組
對比功能	支持自定義標準數據，自動對比
電源要求	220V±10%，50Hz
工作溫度	15-32℃
相對濕度	20%-75%（無冷凝）

廣泛用途

在小型五金廠，檢測螺栓、螺母的表面粗糙度，確保裝配順滑；在電子配件廠，測量連接器引腳的高度與平整度，防止焊接不良；在小型模具廠，檢測簡易模具型腔的表面紋理，保證成型產品質量；在玩具配件廠，測量塑料齒輪的齒面光滑度，確保運轉順暢；在維修作坊，檢測維修后零件的表面修復質量。

使用說明

放置在車間質檢工位，連接電源并插入 SD 卡。開機后設備待機，質檢人員清潔樣品，用彈性卡扣固定在樣品臺。通過面板選擇檢測參數（如 “五金件粗糙度"），按下 “開始測量"。設備自動掃描，結束后顯示結果與對比判定，按下 “保存" 將數據存至 SD 卡。每日工作結束后關閉電源，用濕布擦拭樣品臺，清理碎屑；鏡頭有油污時用鏡頭紙蘸酒精輕擦。每月檢查電源線路，每季度清理內部灰塵；測量結果偏差大時聯系專業人員校準，無需自行拆解。

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