多技術(shù)融合：S neox應對復雜測量挑戰(zhàn)

面對日益復雜的樣品和更高的檢測要求，單一測量技術(shù)有時會顯得力不從心。Sensofar S neox的多技術(shù)融合特性，使其能夠從容應對各種復雜的表面測量挑戰(zhàn)，為用戶提供一個更全面、更可靠的工具。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀

產(chǎn)品細節(jié)與性能

S neox的“多技術(shù)融合"并非簡單拼湊，而是深層次整合。其智能系統(tǒng)能根據(jù)預設的程序，在同一視場內(nèi)自動切換不同的測量技術(shù)。例如，可以先使用共聚焦模式快速掃描整個區(qū)域并識別出具有不同特征的子區(qū)域，然后針對光滑區(qū)域自動切換到干涉模式進行納米級精度的測量。

這種智能的工作流程不僅保證了每個特征都能用最合適的技術(shù)進行測量，還避免了人為切換帶來的誤差和時間消耗。True Color技術(shù)還能在測量形貌的同時，捕獲真實的表面顏色信息，為分析提供更多維度的參考。

用途深入解析

在MEMS器件測量中，既有高深寬比的結(jié)構(gòu)（適合共聚焦），又有光滑的反射面（適合干涉），S neox可一次測量全面表征。在透明薄膜測量中，共聚焦模式可以過濾掉底層反射的干擾，準確測量薄膜表面形貌。在混合材料樣品上，不同材質(zhì)的反射率差異巨大，多技術(shù)選擇確保了測量的成功率。

使用說明

用戶可以在SensoMAP軟件中輕松設置測量序列（Recipe），將不同技術(shù)的測量步驟、物鏡選擇、參數(shù)設置等保存下來。日后遇到同類樣品，只需調(diào)用該Recipe，即可實現(xiàn)一鍵式全自動測量，極大降低了對操作人員的技術(shù)要求，保證了測量結(jié)果的一致性和可重復性。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀

多技術(shù)融合：S neox應對復雜測量挑戰(zhàn)