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Sensofar S neox:多技術融合的測量新體驗

產品簡介

Sensofar S neox:多技術融合的測量新體驗
在微觀測量領域,單一技術往往難以應對復雜多樣的測量需求。Sensofar 推出的新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox,憑借共聚焦、干涉與多焦面疊加技術的融合應用,為用戶帶來了更為全面的測量解決方案。

產品型號:
更新時間:2025-09-15
廠商性質:代理商
訪問量:17
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Sensofar S neox:多技術融合的測量新體驗

在微觀測量領域,單一技術往往難以應對復雜多樣的測量需求。Sensofar 推出的新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox,憑借共聚焦、干涉與多焦面疊加技術的融合應用,為用戶帶來了更為全面的測量解決方案。
從技術原理來看,共聚焦技術通過針孔過濾掉非焦點光線,能夠獲取高對比度的二維圖像,在此基礎上進行縱向掃描,即可構建出樣品表面的三維形貌。S neox 的共聚焦模塊橫向分辨率可達 0.10um,這意味著即便是微小的線條或縫隙,也能被清晰識別。當搭配 150 倍、0.95 數值孔徑的鏡頭時,對于光滑表面的測量斜率能達到 70°,粗糙表面則可達到 86°,面對具有一定傾斜角度的樣品表面,也能保持良好的測量效果。其的共聚焦算法讓 Z 軸測量重復性穩定在納米級別,為數據的可靠性提供了有力保障。
干涉技術是 S neox 另一重要技術支撐,分為相位差干涉和白光干涉。相位差干涉利用光的相位變化進行測量,縱向分辨率可達亞納米級,且在不同放大倍數下均能保持這一精度。例如使用 2.5 倍鏡頭時,既能實現較大視場的觀測,又能獲得超高的縱向測量精度,非常適合對大面積光滑表面進行精細測量。白光干涉則基于白光的低相干特性,通過分析干涉條紋的變化來計算表面高度,縱向分辨率為納米級,適用范圍廣泛,無論是光滑表面還是略帶粗糙的表面,都能準確測量,且同樣不受放大倍數影響。
多焦面疊加技術是 S neox 針對粗糙表面測量開發的特色功能。對于那些起伏較大、傳統共聚焦技術難以一次性清晰成像的樣品,該技術通過快速采集不同焦平面的圖像并進行疊加處理,能夠完整還原表面形貌。其掃描速度可達 mm/s 級別,在保證效率的同時,最大支持 86° 的測量斜率,對于工件、模具等具有復雜表面的樣品測量來說,是非常實用的功能。
在硬件配置上,S neox 的光學鏡頭選用低色散光學玻璃,有效減少了色差對成像質量的影響,再加上多層增透膜的處理,大幅提升了光線透過率,使圖像細節更加清晰。鏡頭鏡筒采用不銹鋼材質,具有良好的機械穩定性,在溫度變化或輕微振動的環境中,不易發生形變,確保了光學系統的同軸度,維持了測量精度的穩定性。樣品臺導軌采用精密滾珠結構,并覆蓋耐磨涂層,不僅移動順滑,還能長期保持良好的運動精度,保證樣品定位的準確性。
參數方面,S neox 提供了豐富的配置選擇,樣品臺尺寸多樣,最大可容納 700×600mm2 的樣品,滿足不同規格樣品的測量需求。設備整體尺寸約為 600mm×500mm×750mm,重量在 70kg 以內,臺式一體化設計使其能輕松融入各類實驗室和生產環境。
操作方面,S neox 配備的 SensoSCAN 軟件界面簡潔明了,即使是初次使用的用戶,也能快速上手。軟件具備導航預覽功能,可自動大范圍掃描樣品,幫助用戶快速定位測量區域,且在轉換放大倍數時,預覽圖會實時顯示當前觀察位置,提升操作便捷性。若需要更專業的分析功能,可增配 SensoPRO LT 或 SensoMAP 軟件。SensoPRO LT 支持全自動測量,適合生產線質量管控,其插件式分析模塊可根據需求靈活增減,涵蓋 LED 行業 PSS、Bump、粗糙度等多種分析場景,還能進行定制開發。SensoMAP 則基于 Mountains 平臺,提供 2D、3D、4D 分析、粒度分析等多種功能模塊,滿足科研級別的深度分析需求。
無論是精密制造中的質量檢測,還是材料科學中的表面分析,S neox 憑借多技術融合的優勢,都能提供穩定可靠的測量數據,為各行業的研發與生產提供有力支持。


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