Sensofar S neox：3D 輪廓檢測新助力
在精密制造、半導(dǎo)體、光學(xué)元件及生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域，對物體表面微觀形貌的精準檢測是保障產(chǎn)品質(zhì)量與推動科研進展的重要環(huán)節(jié)。Sensofar 推出的新型 3D 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox，憑借創(chuàng)新的光學(xué)檢測技術(shù)、穩(wěn)定的性能及豐富的功能，為各行業(yè)提供高效、可靠的表面輪廓檢測方案，助力用戶深入探索樣品表面的三維特征。
從產(chǎn)品細節(jié)來看，Sensofar S neox 采用一體化機身設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊穩(wěn)固，占地面積較小，可靈活放置在實驗室或生產(chǎn)車間的檢測區(qū)域，無需占用過多空間。設(shè)備搭載高分辨率共聚焦光學(xué)系統(tǒng)，核心光學(xué)部件選用高透光率的光學(xué)玻璃，配合多層鍍膜的精密鏡頭組，能有效減少光線折射、散射帶來的干擾，確保檢測圖像的清晰度與準確性。檢測平臺采用高精度電動平移臺，臺面材質(zhì)為耐磨不銹鋼，表面經(jīng)過精密研磨處理，平整度高，可穩(wěn)定承載不同規(guī)格的樣品，同時平移臺的移動精度可達微米級別，能精準將樣品送至檢測區(qū)域，保證檢測位置的準確性。此外，設(shè)備配備 15 英寸高清觸控顯示屏，操作界面簡潔直觀，常用功能以圖標形式呈現(xiàn)，方便用戶快速上手操作。
產(chǎn)品性能方面，Sensofar S neox 具備出色的檢測分辨率，垂直分辨率可達納米級別，能清晰捕捉樣品表面微小的高低起伏變化，如微米級的劃痕、凸起、凹陷或紋理結(jié)構(gòu)。設(shè)備的檢測范圍可根據(jù)需求靈活調(diào)整，最小檢測區(qū)域可至幾微米，最大檢測區(qū)域能覆蓋數(shù)毫米，滿足從小尺寸精密元件到較大樣品表面的檢測需求。借助共聚焦白光干涉技術(shù)，設(shè)備的檢測速度較快，完成一次常規(guī)樣品的 3D 輪廓掃描僅需數(shù)分鐘，大幅縮短檢測周期，提高檢測效率。同時，設(shè)備具備良好的重復(fù)性，對同一樣品多次檢測，結(jié)果偏差較小，確保檢測數(shù)據(jù)的可靠性，為后續(xù)的分析與決策提供有力支持。
用材上，除核心光學(xué)部件采用高透光率光學(xué)玻璃外，設(shè)備的機身框架選用高強度鋁合金材料，這種材料不僅重量輕，還具備良好的抗振動性能與抗腐蝕能力，能減少外部環(huán)境振動對檢測結(jié)果的影響，同時適應(yīng)不同的使用環(huán)境，延長設(shè)備使用壽命。檢測平臺的不銹鋼臺面耐磨損、抗腐蝕，長期使用后仍能保持較好的平整度，避免因臺面磨損影響檢測精度。設(shè)備內(nèi)部的電子元件均選用優(yōu)質(zhì)品牌產(chǎn)品，確保電路系統(tǒng)的穩(wěn)定運行，降低設(shè)備故障概率，保障檢測工作的連續(xù)開展。
Sensofar S neox 的用途廣泛。在半導(dǎo)體行業(yè)，可用于檢測芯片表面的平整度、線路的高度差、鍵合點的形態(tài)及缺陷，確保芯片的性能與可靠性；在光學(xué)元件制造領(lǐng)域，能檢測透鏡、棱鏡、反射鏡等表面的曲率、面型誤差、粗糙度，保障光學(xué)元件的成像質(zhì)量與光學(xué)性能；在精密模具行業(yè)，可對模具表面的紋理、尺寸精度、磨損程度進行檢測，為模具的加工優(yōu)化與維護提供數(shù)據(jù)支持；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，能檢測醫(yī)療植入體表面的粗糙度、微觀結(jié)構(gòu)，確保其生物相容性與使用安全性，同時也可用于生物組織樣本的表面形貌觀察，助力生物醫(yī)學(xué)研究。
使用說明方面，以檢測光學(xué)透鏡表面面型誤差為例，操作步驟如下：首先，將待檢測的光學(xué)透鏡放置在檢測平臺的中心位置，調(diào)整樣品固定裝置，確保透鏡穩(wěn)定且不產(chǎn)生變形，同時保證透鏡的檢測區(qū)域?qū)淑R頭；然后，打開設(shè)備配套的檢測軟件，在軟件界面中設(shè)置檢測參數(shù)，如檢測區(qū)域大小、掃描分辨率、掃描速度等，根據(jù)透鏡的尺寸與檢測需求，選擇合適的參數(shù)；接著，啟動檢測程序，設(shè)備會自動控制電動平移臺移動，帶動樣品進行掃描，共聚焦光學(xué)系統(tǒng)同時采集樣品表面的光學(xué)信號，并將其轉(zhuǎn)化為三維輪廓數(shù)據(jù)；檢測完成后，軟件會自動生成 3D 輪廓圖像及相關(guān)檢測報告，報告中包含表面粗糙度、面型誤差、曲率半徑等關(guān)鍵參數(shù)，用戶可根據(jù)報告分析透鏡表面的質(zhì)量狀況，判斷是否符合生產(chǎn)或使用標準；最后，關(guān)閉檢測程序，取下樣品，用無塵布蘸取專用清潔劑輕輕擦拭檢測平臺，清潔完畢后，關(guān)閉設(shè)備電源，為下一次檢測做好準備。
Sensofar S neox 參數(shù)表：
Sensofar 新型 3D 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox 以其精準的檢測能力、穩(wěn)定的性能、優(yōu)質(zhì)的用材及便捷的操作，成為各行業(yè)表面輪廓檢測的可靠工具，為產(chǎn)品質(zhì)量控制、研發(fā)創(chuàng)新及科研探索提供有力的數(shù)據(jù)支持，助力用戶在相關(guān)領(lǐng)域取得更好的成果。
Sensofar S neox：3D 輪廓檢測新助力
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