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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克
ContourX-200布魯克光學(xué)輪廓儀三維測(cè)量新維度
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
                布魯克光學(xué)輪廓儀三維測(cè)量新維度ContourX-200是布魯克推出的臺(tái)式三維光學(xué)輪廓儀,采用白光干涉(WLI)技術(shù)實(shí)現(xiàn)非接觸式表面形貌測(cè)量。
布魯克光學(xué)輪廓儀三維測(cè)量新維度
ContourX-200是布魯克推出的臺(tái)式三維光學(xué)輪廓儀,采用白光干涉(WLI)技術(shù)實(shí)現(xiàn)非接觸式表面形貌測(cè)量。其核心配置包括5百萬像素?cái)z像頭與電動(dòng)XY載物臺(tái),支持2D/3D高分辨率測(cè)量。設(shè)備垂直分辨率優(yōu)于0.01nm,水平分辨率達(dá)0.5μm(Sparrow準(zhǔn)則),掃描量程≤10mm,可精準(zhǔn)捕捉微米級(jí)結(jié)構(gòu)變化。機(jī)身采用輕量化合金框架,搭配可拆卸防塵蓋板,適配車間環(huán)境。光學(xué)鏡頭經(jīng)多層增透膜處理,減少表面反射干擾,確保成像清晰。樣品臺(tái)配備彈性硅膠夾具,兼容金屬、塑料、陶瓷等多材質(zhì)電子件,避免劃傷敏感表面。軟件系統(tǒng)集成Vision64與VisionXpress,支持ISO 25178等標(biāo)準(zhǔn)分析,滿足半導(dǎo)體、MEMS、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的質(zhì)量控制需求。
產(chǎn)品細(xì)節(jié)與性能:
采用白光干涉(WLI)技術(shù),具有高Z軸分辨率(<0.01nm)和水平分辨率(0.38μm Sparrow準(zhǔn)則,0.13μm帶AcuityXR®)。
配備5百萬像素?cái)z像頭和電動(dòng)XY載物臺(tái),支持2D/3D高分辨率測(cè)量。
最大掃描量程≤10mm,垂直分辨率<0.01nm,水平分辨率0.5μm(Sparrow準(zhǔn)則),臺(tái)階高度準(zhǔn)確性<0.75%,重復(fù)性<0.1% 1sigma。
樣品反射率范圍0.05%到100%,最大樣品高度≤100mm,XY平臺(tái)行程150mm。
防震設(shè)計(jì)穩(wěn)定,工作溫度15-30℃,適應(yīng)電子車間環(huán)境。
用材與結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):
機(jī)身采用輕量化合金框架,防塵蓋板可拆卸,減少粉塵影響。
光學(xué)鏡頭使用高透光率玻璃,多層增透膜處理,減少反射光干擾。
樣品臺(tái)設(shè)計(jì)有彈性硅膠夾具,保護(hù)樣品表面,適應(yīng)不同形狀的元器件。
型號(hào)與用途:
屬于ContourX系列,型號(hào)為ContourX-200,適用于半導(dǎo)體、眼科、醫(yī)療設(shè)備、MEMS、摩擦學(xué)等領(lǐng)域。
支持多種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(如ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287)的定制化分析報(bào)告。
應(yīng)用于精密電子件、微型傳感器、PCB板線路、連接器引腳等檢測(cè),以及科研和工業(yè)生產(chǎn)中的表面形貌分析。
操作說明與維護(hù):
操作面板防水防油,適應(yīng)車間環(huán)境。
支持手動(dòng)與半自動(dòng)模式,適應(yīng)不同樣品切換和批量檢測(cè)需求。
軟件系統(tǒng)為Vision64和VisionXpress,支持自動(dòng)化功能如自動(dòng)拼接、網(wǎng)格自動(dòng)化、自動(dòng)對(duì)焦等。
維護(hù)建議包括定期清潔光學(xué)鏡頭和樣品臺(tái),性能驗(yàn)證和校準(zhǔn),放置在潔凈、干燥、無強(qiáng)氣流和振動(dòng)環(huán)境中。
參數(shù)表:
垂直分辨率<0.01nm,水平分辨率0.5μm,最大掃描量程≤10mm,臺(tái)階高度準(zhǔn)確性<0.75%,重復(fù)性<0.1% 1sigma,樣品反射率0.05%-100%,樣品高度≤100mm,XY平臺(tái)行程150mm,重量67kg,尺寸480mm(W)x604mm(D)x754mm(H)。
布魯克光學(xué)輪廓儀三維測(cè)量新維度
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