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小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍?

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍?
對(duì)需要分析小/大樣品的研究者而言，ZEM15不是“湊合用"的工具，而是用“大包容"設(shè)計(jì)，讓微區(qū)研究從“大海撈針"變成“精準(zhǔn)導(dǎo)航"。

產(chǎn)品型號(hào)：ZEM15

更新時(shí)間：2025-10-28

廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商

訪(fǎng)問(wèn)量：27

產(chǎn)品咨詢(xún) 17701039158

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍“以前測(cè)頁(yè)巖樣品，光找觀(guān)察區(qū)域就要半小時(shí)。"地質(zhì)研究所研究員陳工坦言，小樣品（≤5cm）分析是團(tuán)隊(duì)長(zhǎng)期痛點(diǎn)。傳統(tǒng)電鏡樣品倉(cāng)小，只能固定拇指大的切片，稍移動(dòng)樣品就丟失視域；拍幾十張照片拼圖，誤差率高得讓人頭疼。

澤攸ZEM15的“大視野樣品倉(cāng)+坐標(biāo)標(biāo)記"功能，解決了這個(gè)問(wèn)題。設(shè)備支持最大8cm×8cm樣品，陳工團(tuán)隊(duì)將整塊頁(yè)巖切片直接放入，通過(guò)低倍全景掃描快速定位關(guān)鍵區(qū)域，再用高倍觀(guān)察細(xì)節(jié)。“以前找一條礦物邊界要拍20張圖，現(xiàn)在掃描一張全景圖，軟件自動(dòng)標(biāo)注目標(biāo)位置，效率至少提升3倍。"

更實(shí)用的是“坐標(biāo)記憶"。陳工標(biāo)記了一個(gè)黏土-有機(jī)質(zhì)界面后，即使關(guān)機(jī)重啟，下次開(kāi)機(jī)輸入坐標(biāo)，設(shè)備直接跳轉(zhuǎn)到該位置。“以前找樣品像大海撈針，現(xiàn)在秒定位，節(jié)省大量時(shí)間。"團(tuán)隊(duì)用ZEM15完成的《頁(yè)巖儲(chǔ)層微孔隙分布特征》論文，因微觀(guān)結(jié)構(gòu)揭示更清晰，被核心期刊優(yōu)先錄用。

不止地質(zhì)領(lǐng)域，ZEM15的大樣品倉(cāng)在半導(dǎo)體檢測(cè)中也發(fā)揮優(yōu)勢(shì)。某芯片廠(chǎng)用它觀(guān)察整片晶圓邊緣的鍍層缺陷，無(wú)需切割樣品，直接定位問(wèn)題區(qū)域，不良品分析周期從2天縮短至4小時(shí)。

對(duì)需要分析小/大樣品的研究者而言，ZEM15不是“湊合用"的工具，而是用“大包容"設(shè)計(jì)，讓微區(qū)研究從“大海撈針"變成“精準(zhǔn)導(dǎo)航"。小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍

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