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Sensofar S neox：半導體封裝檢測精密工具 在半導體封裝制造、微型電子元件檢測、射頻器件研發等精密電子領域，對芯片鍵合線、封裝膠體、引腳等微觀結構的 3D 輪廓測量要求嚴苛，Sensofar 新型共聚焦白光干涉輪廓儀 S neox 憑借高分辨率測量能力與半導體行業適配設計，成為封裝質量把控的實用工具，助力企業提升半導體產品的可靠性與良率。

Sensofar S wide：大尺寸部件 3D 檢測利器 在汽車車身部件制造、航空航天結構件檢測、大尺寸玻璃面板質量控制等領域，傳統小視野輪廓儀難以高效完成全尺寸檢測，Sensofar 大視野 3D 光學輪廓儀 S wide 憑借超大測量視野與快速拼接技術，成為大尺寸樣品 3D 輪廓分析的實用工具，為工業生產中大型部件的質量把控提供高效解決方案。

S neox：納米材料研發 3D 分析助手 在納米材料研發、薄膜技術研究、生物醫用材料設計等科研領域，對材料表面微觀 3D 結構的精準分析是揭示材料性能機制的關鍵，Sensofar 3D 共聚焦白光干涉儀 S neox 憑借高分辨率測量能力與靈活的實驗適配性，成為科研團隊探索納米尺度結構的實用工具，為材料研發提供從形貌觀察到數據量化的全流程支持。

Sensofar S neox精密部件 3D 輪廓測量工具 在精密制造、半導體封裝、光學元件加工等領域，對部件表面 3D 輪廓的精準測量是把控產品質量的關鍵環節，Sensofar 新型共聚焦白光干涉輪廓儀 S neox 憑借光學設計與穩定的測量性能，成為眾多行業的實用選擇，為微觀尺度的輪廓分析提供有力支持。

布魯克輪廓儀ContourX 系列多場景選型指南 在三維光學測量領域，不同行業、不同場景對設備的量程、精度、操作復雜度需求差異顯著。布魯克 ContourX 系列包含 ContourX-500、ContourX-200、ContourX-100 三款型號，分別對應高精度全場景、中小量程靈活適配、入門級基礎測量需求，形成覆蓋多場景的產品矩陣。本文將通過多維度對比，幫助用戶快速匹配適合自身需求的型號，

布魯克輪廓儀：高校教學科研適配 高校教學與小型科研場景中，三維光學測量設備需兼顧操作簡便性、成本可控性與基礎測量功能，既要滿足學生對測量原理的學習實踐，又要為小型科研項目提供可靠的基礎數據支持。ContourX-100 三維光學輪廓儀以入門級定位、簡潔設計及實用性能，成為這類場景的適配選擇，助力教學開展與科研推進。