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三維光學輪廓儀
BEUKER白光干涉光學輪廓儀
ContourX-500BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具
                    



產品簡介
                BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具在電子、汽車零部件等工業生產的質檢環節,快速且準確的微觀測量是把控產品質量的關鍵。布魯克 ContourX-500 憑借適配工業場景的性能與便捷操作,成為生產線質檢工位的實用選擇。
產品分類
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BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具
參數項  | 具體數值  | 
橫向分辨率  | 最高可達 0.14μm  | 
縱向分辨率  | 低至 0.1nm  | 
縱向測量范圍  | 0.1nm-10mm  | 
樣品臺尺寸  | 150mm×150mm  | 
樣品臺承重  | 5kg  | 
連續測量效率  | 單樣品平均檢測時間<2 分鐘  | 
工業對接協議  | 支持 Modbus、Profinet  | 
數據存儲容量  | 本地可存 1000 組數據  | 
工作溫度  | 15-30℃  | 
相對濕度  | 20%-70%(無冷凝)  | 
BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具