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三維光學輪廓儀
BEUKER白光干涉光學輪廓儀
ContourX-200BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選
                    



產品簡介
                BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構,布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能,成為微觀測量工作的理想工具。
產品分類
BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選
參數項  | 具體數值  | 
橫向分辨率  | 最高可達 0.5μm  | 
縱向分辨率  | 低至 1nm  | 
縱向測量范圍  | 1nm-5mm  | 
樣品臺尺寸  | 100mm×100mm  | 
樣品臺調節方式  | 手動平移(X/Y 軸)  | 
掃描速度  | 0.5-5mm/s(可調)  | 
數據接口  | USB 2.0  | 
設備重量  | 12kg  | 
工作溫度  | 18-28℃  | 
相對濕度  | 30%-60%(無冷凝)  | 
BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選