布魯克輪廓儀：材料表面形貌分析工具

布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500是一款用于材料表面形貌分析的測(cè)量工具，適用于工業(yè)檢測(cè)和實(shí)驗(yàn)室研究。該產(chǎn)品采用非接觸式光學(xué)干涉技術(shù)，能夠?qū)Χ喾N材料表面進(jìn)行三維形貌測(cè)量，包括金屬、陶瓷、聚合物和薄膜等。

ContourX-500的核心部件包括光源模塊、干涉鏡頭、樣品臺(tái)和控制系統(tǒng)。光源采用LED白光，配合多波段濾波器，可適應(yīng)不同反射特性的樣品。干涉鏡頭設(shè)計(jì)緊湊，支持自動(dòng)切換物鏡，實(shí)現(xiàn)不同放大倍率的測(cè)量。樣品臺(tái)由鋁合金制成，表面經(jīng)過(guò)防腐蝕處理，承重能力為5公斤，移動(dòng)范圍為100mm x 100mm。控制系統(tǒng)集成運(yùn)動(dòng)模塊和傳感器，確保測(cè)量過(guò)程的穩(wěn)定性。

在性能方面，ContourX-500的垂直測(cè)量范圍可達(dá)5mm，橫向分辨率取決于物鏡選擇，最高可達(dá)0.35μm。測(cè)量速度因掃描模式和區(qū)域大小而異，通常完成一次測(cè)量需幾分鐘。重復(fù)性測(cè)試顯示，在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下，測(cè)量結(jié)果的一致性較好。

參數(shù)表：

• 型號(hào)：ContourX-500

• 測(cè)量技術(shù)：白光干涉

• 垂直分辨率：0.1nm

• 橫向分辨率：0.35μm至5μm（依物鏡而定）

• 最大掃描范圍：5mm x 5mm x 5mm

• 樣品臺(tái)尺寸：200mm x 200mm

• 重量：35kg

• 電源要求：100-240V AC, 50/60Hz

該產(chǎn)品主要用于表面粗糙度分析、薄膜厚度測(cè)量、微結(jié)構(gòu)尺寸檢測(cè)和磨損評(píng)估。在半導(dǎo)體、光學(xué)制造、汽車零部件和材料科研等領(lǐng)域有較多應(yīng)用。

使用前需確認(rèn)設(shè)備水平放置，連接電源和計(jì)算機(jī)。開(kāi)機(jī)后啟動(dòng)控制軟件，選擇測(cè)量模式并設(shè)置參數(shù)。將樣品固定在臺(tái)上，調(diào)整焦距和光路，開(kāi)始掃描。測(cè)量完成后，軟件可生成三維圖像和數(shù)據(jù)分析報(bào)告。日常維護(hù)包括清潔光學(xué)部件和檢查機(jī)械結(jié)構(gòu)。

ContourX-500的設(shè)計(jì)注重實(shí)用性和適應(yīng)性，適合多種工業(yè)環(huán)境。

布魯克輪廓儀：材料表面形貌分析工具