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布魯克輪廓儀 :開啟測量新篇

產品簡介

布魯克輪廓儀 :開啟測量新篇
在科研與工業生產領域,對物體表面微觀特征的精確測量至關重要。三維光學輪廓儀 ContourX-100,作為一款性能出色的測量設備,正逐漸嶄露頭角,為眾多行業帶來新的測量解決方案。

產品型號:ContourX-100
更新時間:2025-09-16
廠商性質:代理商
訪問量:21
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布魯克輪廓儀 :開啟測量新篇

在科研與工業生產領域,對物體表面微觀特征的精確測量至關重要。三維光學輪廓儀 ContourX-100,作為一款性能出色的測量設備,正逐漸嶄露頭角,為眾多行業帶來新的測量解決方案。
從產品細節來看,ContourX-100 設計精巧。它采用緊湊的臺式結構,機身尺寸小巧,不會占用過多空間,無論是在實驗室的有限臺面上,還是工廠車間的復雜環境中,都能輕松安置。儀器外殼材質堅固耐用,有效保護內部精密組件,減少外界因素干擾。內部構造方面,光學元件布局合理,光路設計經過精心優化,確保光信號穩定傳輸,為高精度測量奠定基礎。
在產品性能上,ContourX-100 表現優異。其具備出色的二維 / 三維高分辨率測量能力,能清晰呈現物體表面微觀輪廓。通過優良的白光干涉(WLI)技術,該設備可實現穩定且精準的測量。在不同的放大倍率下,都能保持良好的測量穩定性,為用戶提供可靠的數據。例如,在測量微小零件表面粗糙度時,能夠精準捕捉到細微的起伏變化,為產品質量評估提供關鍵依據。
說到用材,ContourX-100 毫不含糊。光學鏡片選用優質光學玻璃,具備高透光率和低像差特性,能保證成像清晰、準確。儀器內部的關鍵機械部件采用高強度、耐磨材料制造,確保長期穩定運行,減少因部件磨損導致的測量誤差,延長設備使用壽命。
下面來看 ContourX-100 的部分參數:
參數類別
具體參數
最大掃描量程
≤10mm
垂直分辨率
<0.01nm
水平分辨率
0.38μm min(Sparrow 準則);0.13μm(使用 AcuityXR® 時)
臺階高度準確性
<0.75%
臺階高度重復性
<0.1% 1 sigma 重復性
最大掃描速度
37μm/sec(標準相機)
樣品反射率范圍
0.05% - 100%
ContourX-100 擁有多種型號,以滿足不同用戶的多樣化需求。基礎型號適用于常規表面測量任務,如普通零件的表面粗糙度檢測;進階型號則在功能上有所拓展,例如具備更大的樣品臺尺寸,可測量更大尺寸的樣品,或者增加了自動化測量功能,提高測量效率,適用于大規模生產線上的質量檢測。
該設備用途廣泛。在精密工程領域,可用于監測和評估精密零件的表面紋理和幾何尺寸,確保產品符合嚴格的規格要求;在 MEMS 和傳感器制造中,能夠對蝕刻深度、薄膜厚度、臺階高度等進行高精度測量,助力產品研發與質量控制;在醫療領域,如骨科植入物和眼科器械的生產中,可對相關材料和部件進行精確測量,保障醫療器械的安全性和有效性。
使用 ContourX-100 也十分便捷。用戶只需將樣品放置在樣品臺上,通過簡單的操作界面設置好測量參數,如測量范圍、放大倍數等,設備即可快速啟動測量。測量完成后,系統會自動生成詳細的測量數據和直觀的三維圖像,用戶還可利用設備自帶的分析軟件對數據進行進一步處理和分析,如計算表面粗糙度參數、繪制輪廓曲線等。
三維光學輪廓儀 ContourX-100 憑借其出色的產品細節設計、性能、優質的用材、豐富的型號選擇、廣泛的用途以及便捷的使用方式,成為眾多行業進行表面測量的理想之選。它正以可靠的實力,助力科研人員突破技術難題,幫助企業提升產品質量,在各領域發揮著重要作用。

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