布魯克三維光學輪廓儀復雜樣品也能輕松測
一、透明樣品：不被反光 “干擾" 的檢測方案
在光學零件檢測中，玻璃鏡片、透明薄膜這類樣品的反光問題，常讓傳統設備難以清晰捕捉表面狀態，而 ContourX-500 能通過專屬優化方案，避開反光干擾，精準獲取數據。
比如檢測手機鏡頭玻璃時，傳統設備可能因表面反光導致劃痕、氣泡 “看不清"，需要反復調整角度才能勉強檢測。ContourX-500 只需開啟 “透明樣品模式"，系統會自動調整光源角度與成像算法，削弱表面反光，讓玻璃表面的細微劃痕、微小氣泡清晰呈現，不用再依賴操作人員的經驗反復調試。
檢測光學薄膜時，即使薄膜厚度極薄，也能通過非接觸測量方式，完整記錄薄膜表面的平整度狀態，避免因接觸壓力導致薄膜變形，影響檢測結果。無論是研發階段的薄膜工藝優化，還是生產環節的質量抽檢，都能快速獲得可靠數據，不用再擔心透明材質帶來的檢測難題。
二、柔性樣品：不擔心 “變形" 的測量保障
塑料薄膜、金屬箔片等柔性樣品，最大的檢測痛點是容易因夾持受力變形，導致數據失真，而 ContourX-500 從樣品固定到測量方式，都為柔性樣品做了適配設計。
以食品包裝用塑料薄膜檢測為例，需要測量薄膜表面的粗糙度，判斷是否影響印刷效果。ContourX-500 的樣品臺支持 “輕壓固定"，用柔軟的固定組件輕輕壓住薄膜邊緣，避免局部受力導致褶皺；搭配非接觸測量技術，無需接觸薄膜表面就能完成掃描，從根本上杜絕因測量方式導致的樣品變形，確保粗糙度數據真實反映薄膜實際狀態。
檢測金屬箔片（如鋰電池用鋁箔）時，即使箔片薄至幾微米，也能通過設備的低倍率快速掃描，查看是否存在針孔、劃痕等缺陷，同時高倍率可聚焦局部區域，觀察細微的表面凸起，為箔片生產工藝調整提供參考。整個檢測過程不用擔心樣品破損或變形，降低檢測損耗。
三、微小樣品：不放過 “細節" 的精準捕捉
電子行業的芯片引腳、微型齒輪等微小樣品，檢測難點在于 “尺寸小、細節多"，傳統設備可能難以清晰呈現細微結構，而 ContourX-500 通過靈活的物鏡搭配與細節優化，輕松應對這類樣品檢測。
比如檢測芯片上的細小鍵合線，直徑僅幾十微米，低倍率下難以看清形態，高倍率又容易遺漏整體分布。ContourX-500 可先用低倍率掃描，確定鍵合線的整體分布區域，再切換高倍率聚焦單根鍵合線，觀察其弧度、高度是否符合標準，同時軟件支持 “局部放大分析"，框選重點區域就能生成細節數據，不用反復切換視野。
檢測微型齒輪時，齒輪齒牙的微小磨損會影響傳動精度，設備的高倍率物鏡能清晰捕捉齒牙表面的磨損痕跡，甚至能觀察到微米級的凹陷，幫助判斷齒輪是否達到使用壽命。軟件還能自動統計齒牙的尺寸偏差，生成直觀的對比報告，不用手動測量計算，減少人為誤差。
無論是透明、柔性還是微小樣品，ContourX-500 都能通過針對性的設計與功能優化，解決傳統檢測中的痛點，讓復雜樣品檢測不再 “難操作、難精準"，成為覆蓋多類型樣品的實用測量工具。布魯克三維光學輪廓儀復雜樣品也能輕松測
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