sensofar共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀精密檢測(cè)
在精密制造領(lǐng)域，對(duì)工件表面微觀形貌的準(zhǔn)確觀察與分析，是把控產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。Sensofar 新型 3D 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox，憑借適配精密檢測(cè)需求的特性，成為眾多企業(yè)與科研機(jī)構(gòu)開(kāi)展檢測(cè)工作的重要工具。
傳統(tǒng)檢測(cè)方式在面對(duì)復(fù)雜工件表面時(shí)，常面臨檢測(cè)效率低、易對(duì)工件造成損傷等問(wèn)題。而 S neox 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀采用非接觸式檢測(cè)原理，無(wú)需與工件表面直接接觸，就能完成對(duì)表面形貌的掃描與分析。這種檢測(cè)方式不僅能避免因接觸產(chǎn)生的工件劃傷、變形等問(wèn)題，還能適用于一些表面脆弱、結(jié)構(gòu)復(fù)雜的精密部件，比如微型電子元件的引腳、光學(xué)鏡片的鍍膜表面等。
在檢測(cè)過(guò)程中，S neox 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀能夠清晰捕捉工件表面的細(xì)微特征。以半導(dǎo)體芯片的檢測(cè)為例，芯片表面的電路紋路寬度往往以微米甚至納米為單位，該輪廓儀可通過(guò)共聚焦與白光干涉技術(shù)的結(jié)合，精準(zhǔn)呈現(xiàn)電路紋路的邊緣輪廓、高低起伏，幫助檢測(cè)人員及時(shí)發(fā)現(xiàn)紋路偏移、斷裂等缺陷。同時(shí)，它還能對(duì)表面粗糙度、平整度等參數(shù)進(jìn)行分析，為判斷芯片性能是否達(dá)標(biāo)提供數(shù)據(jù)支持。
對(duì)于批量生產(chǎn)的精密工件，檢測(cè)效率直接影響生產(chǎn)進(jìn)度。S neox 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀具備快速掃描功能，在保證檢測(cè)精度的前提下，能縮短單工件的檢測(cè)時(shí)間。某汽車(chē)零部件生產(chǎn)企業(yè)在檢測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)噴油嘴的噴孔表面時(shí)，引入該輪廓儀后，原本需要數(shù)十分鐘才能完成的單個(gè)噴孔檢測(cè)，現(xiàn)在可縮短至幾分鐘，大幅提升了檢測(cè)效率，同時(shí)確保了每一個(gè)噴油嘴的噴孔表面質(zhì)量符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，為發(fā)動(dòng)機(jī)的穩(wěn)定運(yùn)行提供了保障。
此外，該輪廓儀的操作界面簡(jiǎn)潔易懂，即使是經(jīng)驗(yàn)較少的檢測(cè)人員，經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單培訓(xùn)也能熟練操作。其配套的數(shù)據(jù)分析軟件還支持檢測(cè)結(jié)果的導(dǎo)出與共享，方便技術(shù)團(tuán)隊(duì)對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)一管理、分析，為后續(xù)優(yōu)化生產(chǎn)工藝提供依據(jù)。在精密制造行業(yè)不斷追求更高質(zhì)量、更高效率的當(dāng)下，S neox 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀以其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，為精密檢測(cè)工作提供了有力助力，推動(dòng)行業(yè)朝著更精準(zhǔn)、更高效的方向發(fā)展。sensofar共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀精密檢測(cè)
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